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Sistema de pruebas de análisis de imágenes totalmente automático para tecnología de medición de alta precisión
US$ 90.000,00-100.000,001 Set
Sistema de pruebas de análisis de imágenes totalmente automático para tecnología de medición de alta precisión
US$ 100.000,00
1 Set
US$ 90.000,00
2+ Conjuntos
Especificaciones del producto
modelos de lentes láser
KM-LN001KM-LN002KM-LN003KM-LN004KM-LN005KM-LN006+6
rango de lente láser
±50 (μm)±200 (μm)±600 (μm)±1300 (μm)±2000 (μm)±5000 (μm)+6
grosor de la película
resolution5 (μm)resolution20 (μm)resolution60 (μm)resolution130 (μm)resolution200 (μm)resolution500 (μm)+6
Perfil del producto
Personalización
DisponibleServicio postventa
soporte de vídeo en líneaVisualización
Pantalla del ordenadorNo. de Modelo.
KM-X5000AUso
Comprobador de Componentes EléctricosMedio ambiente
Temperatura del cuartoGarantía
Con GarantíaPeso
> 10KgPersonalizado
No personalizadorango de medición
300×200×100mmprecisión de medición de imagen de cámara
±0.7μmmedida de fuerza de sonda (en n)
0.06iluminación
luz coaxial, luz de anillo, luz de rendija, para inferiorplataforma xy viaje/mm
300X200cargar plataforma xy
8kgmodo de conducción de la plataforma xy
motor linealenfoque desplazamiento eje z/mm
100Paquete de Transporte
caja de cartónEspecificación
personalizadoMarca Comercial
cátmáticoOrigen
ChinaCaracterísticas principales
Integra cinco funciones principales: perfilómetro óptico, instrumento de medición de imágenes, microscopio de ultra-profundidad, máquina de medición de coordenadas y medidor de espesor de película.
Permite la medición por lotes de muestras colocadas aleatoriamente, sin necesidad de fijaciones, y cuenta con enfoque manual, así como conmutación manual de fuentes de luz, lentes o sondas.
Ofrece un conjunto completo de herramientas para el procesamiento y la medición en 3D: establecimiento de planos de referencia, eliminación de ruido en las imágenes, exportación de nubes de puntos, suavizado, reducción de altura y filtrado de intensidad.
Cuantifica el perfil, el volumen, el área, la diferencia pico-valle, la rugosidad de la línea, la rugosidad superficial, la planitud y la altura de los escalones.
Es ampliamente aplicable en las industrias de electrónica de consumo, semiconductores, optoelectrónica, aeroespacial, moldes de precisión, energías renovables, dispositivos médicos, fabricación de relojes, autopartes, caucho y otras industrias.
Cubre pruebas en laboratorios de I+D, inspección completa en masa y control de calidad de las materias primas.
Una sola máquina realiza una inspección tridimensional completa, incluyendo dimensiones en 2D, altura en 3D, espesor, precisión posicional, rugosidad y espesor de película.
El software extrae automáticamente todos los datos de medición en tablas, calcula los indicadores de capacidad del proceso CPK y genera gráficos de tendencias.
Las imágenes de múltiples capas a diferentes alturas dentro del mismo campo de visión se enfocan y se combinan automáticamente para generar imágenes de profundidad completamente nítidas.
Perfil de la empresa

Certificación de GestiónControl de Calidad EstandarizadoPatentes concedidasCapacidades de I+D
CertificadoTipo de Negocio: Fabricante/Fábrica & Empresa Comercial CertificadoCapacidad de R&D: Servicio ODM disponible CertificadoOpciones de Personalización: Personalización a partir de muestras, Personalización desde diseños, etc. CertificadoPuerto Más Cercano: Shanghai PortTiempo promedio de respuesta: ≤3.97h
Acerca de nuestra fábrica & Antecedentes comerciales
DirecciónFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Área de la Planta3580 Metros Cuadrados
Número de Empleados294
Capital Registrado10,000,000 RMB
Plazo de Ejecución MedioPlazo de Ejecución de Temporada Alta: 1-3 Meses, Tiempo de Entrega Fuera de Temporada, 1-3 Meses
Socios de la cadena de suministro51
Nuestra capacidad de producción & Experiencia técnica
Productos PrincipalesMicroscopios digitales, microscopio óptico, 3D microscopio, microscopio láser, perfilador, microscopía confocal, interferómetro de luz blanca, vibrómetro láser Doppler, probador de rugosidad sin contacto, vibrómetro Doppler
Líneas de Producción4
Maquinas de ProducciónCNC Centre
Inspectores de QA/QC8 people
Tipo de Inspección para Productos Terminados100% inspección(Inspección visual & Inspección de funciones)
Método de inspección de productos terminadosTener instrucciones y seguirlas uniformemente
R&D Ingenieros56 people
Trazabilidad de Materias PrimasSí
Nuestra Experiencia en la Industria& Registro Comercial Global
Mercados PrincipalesAmérica del Norte, Sudamerica, Europa del Este, Sudeste de Asia, África, Oceanía, Medio Oriente, Asia Oriental, Europa Occidental
Nuevos productos lanzados el año pasadoSí
Nuestras certificaciones, estándares& Reconocimiento de la industria
Certificación del Sistema de GestiónISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Otros
Producto Q&A
Q:¿Cuáles son las cinco funciones principales integradas en el microscopio de medición de precisión multifunción KM?
A:
Integra cinco funciones principales: microscopio de gran profundidad de campo, instrumento de medición de imágenes, analizador de espesor de película, instrumento de medición de coordenadas y microscopio confocal.
Q:¿Cuál es el rango de recorrido del KM-X5000A?
A:
El recorrido de la plataforma XY es de 300 * 200 mm, y el recorrido del eje Z es de 100 mm.
Q:¿Cuáles son las ventajas del modo de prueba rápida con un solo clic para los equipos KM?
A:
No requiere posicionamiento, no es necesario alinear, se puede medir de forma desordenada, y admite la detección rápida por lotes.
Q:¿En qué industrias se pueden aplicar los equipos KM?
A:
Adecuado para industrias como electrónica, semiconductores, automoción, medicina, relojería, maquinaria de precisión, hardware de precisión, plástico y caucho.
Q:¿Cuál es la diferencia entre los equipos de la serie KM y los dispositivos de imagen convencionales?
A:
La serie KM es un dispositivo multifunción integrado que combina cinco funciones: microscopio de gran profundidad de campo, instrumento de medición de imágenes, analizador de espesor de película, sistema de tres coordenadas y microscopio confocal. No solo puede medir dimensiones bidimensionales, sino que también puede detectar estructuras tridimensionales, espesor de película, morfología superficial y rugosidad. Los dispositivos de imagen convencionales de gama baja solo pueden medir dimensiones planas con funciones simples, baja precisión y poca escalabilidad.
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