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Sistema de Análisis de Microscopio de Ultra Precisión para Análisis de Topografía de Chips
US$ 48.000,00
1 Set
US$ 45.000,00
2+ Conjuntos
Especificaciones del producto
modelo de lente objetiva
selección de multiplicadores
componentes de la plataforma
Perfil del producto
Personalización
DisponibleServicio postventa
soporte de vídeo en líneaGarantía
1 añosNo. de Modelo.
KS-X5050Aviaje del eje z
50mmprecisión mínima de paso
0.1μmsensor de imagen
25 millones de píxeles de alta definiciónprocesador de control principal
intel i7 procesador de alto rendimientomemoria de funcionamiento
64gb gran memoriaalmacenamiento de datos
1tb unidad de estado sólido de alta velocidadtarjeta gráfica independiente
rtx3060 tarjeta gráfica profesionaldispositivo de visualización
27-inch 4k pantalla ultra clara, resolución 3840×2160temperatura de funcionamiento
5℃-40℃humedad de funcionamiento
5%-80% rh, sin condensaciónsistema de alimentación
equipado con una fuente de alimentación estable de grado industrialPaquete de Transporte
caja de cartónEspecificación
personalizadoMarca Comercial
cátmáticoOrigen
ChinaCaracterísticas principales
Equipado con un sistema de imagen óptica completamente actualizado, los algoritmos de síntesis y empalme se optimizan de forma sincronizada.
Cuatro indicadores clave de imagen se mejoran significativamente en comparación con los microscopios tradicionales, incluyendo la resolución óptica, la reproducción del color, el rendimiento de la imagen con múltiples fuentes de luz y la definición de los píxeles.
Microestructuras, estructuras metalográficas y pequeños arañazos pueden presentarse claramente, sin distorsión ni alteración del color.
La función de síntesis de profundidad ultra amplia (DOF) captura imágenes en capas dentro de un rango del eje Z configurable y registra datos de altura, para luego sintetizar imágenes de nubes de puntos de color verdadero con enfoque total.
Admite la medición 3D de la altura del arco de soldadura, la altura de los resaltes BGA, el perfil, el volumen, la rugosidad superficial y la diferencia de altura, y genera mapas de nubes de altura en pseudocolor.
Integra 7 tipos de modos de iluminación: luz coaxial, luz de anillo, luz lateral, luz transmitida por la base, polarización, interferencia diferencial DIC y luz de cuatro colores.
Diferentes tipos de luz se adaptan a obleas lisas, metales difusos, cristales transparentes, texturas de tensión y microarañazos, para exponer eficazmente los defectos ocultos.
Admite el empalme planar 2D y el empalme de profundidad 3D, y el número máximo de píxeles en el empalme supera los 10 mil millones.
Una ventana de previsualización de enfoque en tiempo real integrada muestra la posición relativa entre la lente y la muestra, con una línea de advertencia de colisión, lo que simplifica la observación de los bordes.
Funciones completas de medición 2D y 3D. La medición 3D incluye la diferencia de altura, el perfil, el volumen y la rugosidad superficial Ra/Sa. Todos los datos de medición se pueden exportar a tablas.
Perfil de la empresa
CertificadoTipo de Negocio: Fabricante/Fábrica & Empresa Comercial CertificadoCapacidad de R&D: Servicio ODM disponible CertificadoOpciones de Personalización: Personalización a partir de muestras, Personalización desde diseños, etc. CertificadoPuerto Más Cercano: Shanghai PortTiempo promedio de respuesta: ≤6.64h
Acerca de nuestra fábrica & Antecedentes comerciales
DirecciónFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Área de la Planta3580 Metros Cuadrados
Número de Empleados294
Capital Registrado10,000,000 RMB
Plazo de Ejecución MedioPlazo de Ejecución de Temporada Alta: 1-3 Meses, Tiempo de Entrega Fuera de Temporada, 1-3 Meses
Socios de la cadena de suministro51
Nuestra capacidad de producción & Experiencia técnica
Productos PrincipalesMicroscopios digitales, microscopio óptico, 3D microscopio, microscopio láser, perfilador, microscopía confocal, interferómetro de luz blanca, vibrómetro láser Doppler, probador de rugosidad sin contacto, vibrómetro Doppler
Líneas de Producción4
Maquinas de ProducciónCNC Centre
Inspectores de QA/QC8 people
Tipo de Inspección para Productos Terminados100% inspección(Inspección visual & Inspección de funciones)
Método de inspección de productos terminadosTener instrucciones y seguirlas uniformemente
R&D Ingenieros56 people
Trazabilidad de Materias PrimasSí
Nuestra Experiencia en la Industria& Registro Comercial Global
Mercados PrincipalesAmérica del Norte, Sudamerica, Europa del Este, Sudeste de Asia, África, Oceanía, Medio Oriente, Asia Oriental, Europa Occidental
Nuevos productos lanzados el año pasadoSí
Nuestras certificaciones, estándares& Reconocimiento de la industria
Certificación del Sistema de GestiónISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Otros
Producto Q&A
Q:¿Puede la serie KS realizar análisis de fallas? ¿Puede capturar imágenes microscópicas de alta definición?
A:
Absolutamente. Permite un zoom de 20 a 9000X, ofrece una nitidez total en el enfoque, permite la visualización de la morfología en 3D, permite la medición de la rugosidad y es adecuada para el análisis de microestructuras, grietas, rayaduras, corrosión, desgaste y análisis de materiales. Además, puede exportar imágenes de alta definición e informes de medición.
Q:¿Cuál es la diferencia entre el microscopio KS con profundidad de campo superampliada y el KM con profundidad de campo superampliada?
A:
El KS es un microscopio de profundidad de campo puro, con mayor aumento (20-9000X) y mayor detalle de observación, adecuado para microestructuras, análisis de fallas e investigación científica.
El KM es una integración de cinco funciones, siendo la profundidad de campo superampliada una de ellas, teniendo en cuenta el grosor de la película 2D/3D, y es adecuado para la inspección de calidad en lotes industriales, priorizando la eficiencia.
Q:¿Puede un microscopio con profundidad de campo superampliada medir el ancho de línea de la litografía PI?
A:
Hola, ¡muchas gracias por su interés en nuestro producto! El microscopio con profundidad de campo superampliada tiene capacidades de medición de alta precisión y puede satisfacer diversas necesidades de observación microscópica. Nuestro producto tiene la capacidad de medición correspondiente para medir el ancho de línea de la litografía PI. Le invitamos a contactar a nuestro equipo profesional, que le proporcionará respuestas más detalladas y soporte técnico.
Q:¿Puede un microscopio digital 3D observar defectos de desgaste de fresas?
A:
Hola, nuestro microscopio digital 3D tiene un excelente rendimiento en la observación de defectos de desgaste de fresas, proporcionando imágenes de alta definición y con gran profundidad para ayudarle a determinar con precisión el estado de desgaste de las fresas. Además, nuestros productos también son fáciles de usar y estables, lo que puede satisfacer sus diversas necesidades de observación. Le invitamos a consultar a nuestro equipo de servicio profesional para obtener más detalles.
Q:¿En qué campos se pueden utilizar los microscopios digitales 3D?
A:
Los microscopios digitales 3D tienen una amplia gama de aplicaciones en múltiples campos. En el campo de la ciencia de los materiales, se utilizan para analizar la microestructura y las propiedades de los materiales. Se utilizan ampliamente en industrias como la fabricación inteligente, la aeroespacial, la electrónica 3C, los semiconductores, la automoción, las energías renovables, los nuevos materiales, los productos farmacéuticos, etc. ¿En qué campo específico le gustaría saber más sobre sus aplicaciones?
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