Analizador de Material Refractario Aurispec Xrf Avanzado con Tecnología Sdd Rápida

Análisis de múltiples elementos: Analiza hasta 40 elementos distintos simultáneamente para obtener resultados completos.

Detector de alta precisión: Equipado con un detector de deriva de silicio (SDD) Super FAST refrigerado por Peltier para una alta resolución.

Tecnología patentada: Incorpora un sistema de múltiples colimadores, múltiples filtros y sustracción de fondo para una precisión inigualable.

Amplio rango de aplicaciones: Adecuado para minerales de hierro, cobre, cromo, molibdeno, tungsteno, plomo-zinc y níquel.

Opciones personalizables: El detector, la fuente de rayos X y el rango de contenido de medición son totalmente personalizables.

Sistema de vacío estable: Sistema integrado de doble bombeo de vacío con estabilización automática del vacío.

Detección de elementos ligeros: La tecnología patentada de filtros de película delgada mejora significativamente los límites de detección para elementos ligeros.

Software fácil de usar: El software estándar de método de parámetros básicos admite la multitarea y la operación con múltiples ventanas.