Analizador Avanzado de Mineral de Cromo para Pruebas de XRF Elementales Precisas

Detector SDD de alta velocidad avanzado: Incorpora un detector de deriva de silicio refrigerado por Peltier para una resolución y repetibilidad extremadamente altas.

Sistema óptico de vacío: Equipado con sistemas de vacío duales y estabilización automática para elementos ligeros.

Capacidad para múltiples elementos: Permite el análisis simultáneo de hasta 40 elementos diferentes.

Tecnología de precisión patentada: Utiliza múltiples colimadores, múltiples filtros y una técnica avanzada de sustracción de fondo para una mayor precisión.

Configuración personalizada: El detector, la fuente de rayos X y el rango de medición se pueden personalizar completamente según las necesidades del cliente.

Aplicación versátil en minerales: Analiza expertamente minerales de hierro, cobre, cromo, molibdeno, tungsteno y otros minerales.

Software fácil de usar: Interfaz intuitiva que admite la ejecución de múltiples tareas y operaciones con múltiples ventanas.