Kit de Análisis de Gemas Avanzado con Detector de Lápiz Lázuli Sdd

Análisis no destructivo: Requiere una preparación de muestras mínima o nula, con resultados precisos en 1-3 minutos.

Software avanzado de espectroscopia de fluorescencia de rayos X: El software de parámetros fundamentales, basado en Windows, reduce los efectos de la matriz para obtener resultados precisos.

Detector de alto rendimiento: Equipado con un tubo de rayos X de 50 kV y un detector de semiconductores (SDD) refrigerado eléctricamente para una repetibilidad excepcional.

Análisis multi-elemento: Analiza simultáneamente la composición elemental y de óxidos para optimizar los procesos.

Sistema de protección robusto: Reforzado con hardware avanzado y monitoreo de software en tiempo real para operaciones seguras.

Mayor sensibilidad: La trayectoria óptica optimizada y el sistema de vacío mejoran la estabilidad en la detección de elementos ligeros.

Informes personalizables: La interfaz intuitiva permite la impresión con un solo clic de los resultados detallados del análisis.

Trayectorias ópticas versátiles: 8 sistemas de trayectoria óptica se adaptan a diferentes tamaños de muestra para minimizar los errores de medición.