SourcingAI
Try for free
Powered by Made-in-China.com
Analizador de herramienta de medición de espesor de recubrimiento de metales preciosos XRF automático de metal Aurispec
US$ 8.500,00-11.000,00
1 Pieza

Perfil del producto

Personalización

Disponible

Servicio postventa

buen servicio posventa

Garantía

1 años

No. de Modelo.

EDX-B3T

Elemento

s-u

Análisis

fluorescencia de rayos x.

Visualización

Pantalla del ordenador

Aplicación

Metal

Frecuencia

50 ± 1HZ

Rendimiento

Automatización

Función

analizador de grosor de recubrimiento

Peso

40kg

Fuente De Alimentación

AC220V ± 22V

Personalizado

Personalizado

detector

nosotros bebiendo

fuente de rayos x.

50kv/200ua

rango de contenido de medición

2ppm~99,99%

Paquete de Transporte

palet

Marca Comercial

aurispec

Origen

China

Código del HS

9027300090

Características principales

Cámara CCD de alta definición: La cámara integrada permite la selección precisa de áreas de revestimiento muy pequeñas y evita la contaminación.
Tecnología de detector Si-Pin: Ofrece un amplio rango de conteo y una excelente resolución energética para una mayor fiabilidad en las mediciones.
Análisis de muestras irregulares: El algoritmo de corrección de distancia y la trayectoria óptica vertical de micro-puntos garantizan la precisión en muestras irregulares.
Análisis de revestimientos multicapa: El software de análisis sin estándares mide el espesor y la composición de revestimientos simples y multicapa.
Plataforma X-Y de precisión: La plataforma manual de alta precisión facilita las mediciones de microáreas de forma cómoda y flexible.
Amplio campo de aplicación: Adecuado para el revestimiento de placas de circuito impreso (PCB), metales preciosos, revestimientos anticorrosión y revestimientos funcionales en la electrónica.
Configuración personalizada: El detector y la fuente de rayos X se pueden personalizar para satisfacer requisitos analíticos específicos.
Conjunto completo de muestras de referencia: Incluye muestras de referencia para la medición precisa del espesor del revestimiento y el análisis exhaustivo de la composición.

Perfil de la empresa

Tipo de Negocio: Fabricante/Fábrica, Empresa Comercial CertificadoCapacidad de R&D: Servicio ODM disponible & Servicio OEM DisponibleAño de Exportación: 2019-09-01Puerto Más Cercano: ShanghaiTiempo promedio de respuesta: ≤3.83hCondiciones de Pago: T/T, Ali Pay

Acerca de nuestra fábrica & Antecedentes comerciales

DirecciónShunxing Mid. Rd. 251#, Wujiang District, Suzhou, Jiangsu, China
Términos Comerciales Internacionales(Incoterms)FOB, EXW, CFR, DDP
Plazo de Ejecución MedioPlazo de Ejecución de Temporada Alta: Un Mes, Tiempo de Entrega Fuera de Temporada, Dentro de 15 días Laborables

Nuestra capacidad de producción & Experiencia técnica

Productos PrincipalesInstrumento analítico, fluorescencia de rayos X, plasma acoplado inductivamente, espectrometría de emisión óptica, Raman, rayos X en vacío, espectrómetro de fluorescencia, espectrofotómetro de llama, rayos X de mesa

Nuestra Experiencia en la Industria& Registro Comercial Global

Mercados PrincipalesAmérica del Norte, Sudamerica, Europa del Este, Sudeste de Asia, África, Oceanía, Medio Oriente, Asia Oriental, Europa Occidental

Producto Q&A

Q:¿Qué tipos de recubrimientos puede medir este analizador?
A:
Mide capas, recubrimientos, laminados y películas formadas químicamente, incluyendo la deposición iónica, el electrochapado, la deposición por vapor y recubrimientos de metales preciosos como el rodio sobre el oro.
Q:¿Es el dispositivo adecuado para muestras irregulares?
A:
Sí, cuenta con un algoritmo de corrección de distancia y un trazado óptico vertical de micro-punto diseñado específicamente para el análisis preciso de muestras irregulares.
Q:¿Cuál es el período de garantía de este instrumento?
A:
El producto viene con una garantía de 1 año y un buen servicio de soporte postventa.
Q:¿Se pueden personalizar el detector y la fuente de rayos X?
A:
Sí, el producto se puede personalizar, lo que permite configuraciones específicas del detector (por ejemplo, Us Sipin) y de la fuente de rayos X (por ejemplo, 50 kV/200 μA).
Q:¿Cómo evita el dispositivo la contaminación de la muestra?
A:
La cámara CCD de alta definición integrada permite la selección precisa de áreas de recubrimiento muy pequeñas, lo que evita eficazmente la contaminación o el daño por contacto directo.

Enviar Consulta

*A:Suzhou Yuanyin Technology Co., Ltd.Suzhou Yuanyin Technology Co., Ltd.
*Contenido:
0/4000

Las respuestas de los proveedores se enviarán a tu correo electrónico registrado

También te puede gustar